7033+FPGA集成电路老化测试系统设计VHDL（500元）
- 模板：¥500.00
- 成品编号：wlq7033
- 使用技术：FPGA
- 数据库：无
- 最后更新：2018-11-20 11:24
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素材描述：
本套FPGA设计包含程序，原理图，演示视频，论文1.7W字
本套设计要实现的功能如下：
摘 要 I
ABSTRACT II
目 录 III
第一章 绪 论 1
1.1课题研究的意义 1
1.2当前国内的研究现状 1
1.3目前集成电路老化测试系统存在的问题 2
第二章 测试系统相关技术介绍 3
2.1 FPGA简介 3
2.1.1 型号的选择 3
2.1.2可编程输入输出单元 3
2.1.3 FPGA的其他资源介绍 4
2.1.4 FPGA的应用 5
2.1.5 FPGA开发过程 5
2.2 Quartus II简介 6
2.3 HDL描述语言简介 8
2.4 Modulesim仿真软件介绍 8
第三章 系统设计概述 10
3.1 课题实现的功能以及需求分析 10
3.2 老化测试系统的组成 11
3.1.1功能电路组成 11
3.2.2命令发送与接收模块 11
3.2.3元器件老化及测试所需环境的实现 11
第四章 老化测试系统硬件设计 12
3.1 硬件整体设计 12
3.2 电源电路 12
3.3 FPGA最小系统介绍 13
3.3.1 FPGA最小系统方案设计 13
3.3.2 FPGA的选型 13
3.3.3 FPGA的配置方式 14
3.4 功能组成电路 15
3.4.1 串口通信电路 15
3.4.2可控电压电路 15
3.4.3电压测试电路 16
3.4.4电流测试电路 17
3.4.5通道选择电路 18
3.4.6数码管显示电路 19
第五章 集成电路老化测试系统软件设计及仿真 22
5.1 软件总体设计方案 22
5.2 各模块软件设计 22
5.2.1串口模块软件设计 22
5.2.2AD7863模块软件设计 23
5.2.3数码管显示软件设计 25
5.3 生成的总体电路 26
第六章 总 结 27
参考文献 28
致 谢 29
附 录 30
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